Characterization of defects in materials
symposium held December 1-2, 1986, Boston, Massachusetts, USA
Edición de la obra Characterization of defects in materials
| Autor | R. W. Siegel, Julia R. Weertman |
|---|---|
| Editorial | Materials Research Society |
| Fecha de publicación | 1987 |
| Lugar | Pittsburgh, Pa |
| Idioma | inglés |
| Páginas | 532 |
| ISBN-10 | 0931837472 |
| OCLC | 15857295 |
| LCCN | 87014023 |
| Serie | Materials Research Society symposia proceedings ; · v. 82 |