Advances in X-Ray Analysis
Volume 27
Edición de la obra Advances in X-Ray Analysis
| Autor | Jerome B. Cohen |
|---|---|
| Editorial | Springer US |
| Fecha de publicación | 1984 |
| Lugar | Boston, MA |
| Idioma | inglés |
| Páginas | 596 |
| Formato | [electronic resource] : |
| ISBN-13 | 9781461327752 |
| ISBN-10 | 146132775X |
| OCLC | 840281808 |
| Número de Cutter | C678a |