
Advanced Vlsi Design and Testability Issues
Edición de la obra Advanced VLSI Design and Testability Issues
| Autor | Suman Lata Tripathi, Sobhit Saxena, Sushanta Kumar Mohapatra |
|---|---|
| Editorial | Taylor & Francis Group, CRC Press |
| Fecha de publicación | 2020 |
| Idioma | inglés |
| Páginas | 378 |
| ISBN-13 | 9780367492823 |
| Número de Cutter | T835a |