Advanced VLSI Design and Testability Issues
Edición de la obra Advanced VLSI Design and Testability Issues
| Autor | Suman Lata Tripathi, Sobhit Saxena, Sushanta Kumar Mohapatra |
|---|---|
| Editorial | Taylor & Francis Group |
| Fecha de publicación | 2020 |
| Idioma | inglés |
| Páginas | 362 |
| ISBN-13 | 9781000168150 |
| Número de Cutter | T835a |