Advanced Test Methods for SRAMs
Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies
Edición de la obra Advanced Test Methods for SRAMs
| Autor | Alberto Bosio, Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel |
|---|---|
| Editorial | Springer London, Limited |
| Fecha de publicación | 2009 |
| Idioma | inglés |
| ISBN-13 | 9781441909381 |
| Número de Cutter | B743a |