Active Probe Atomic Force Microscopy
A Practical Guide on Precision Instrumentation
Edición de la obra Active Probe Atomic Force Microscopy
| Autor | Fangzhou Xia, Ivo W. Rangelow, Kamal Youcef-Toumi |
|---|---|
| Editorial | Springer International Publishing AG |
| Fecha de publicación | 2023 |
| Idioma | inglés |
| ISBN-13 | 9783031442322 |
| Número de Cutter | X6a |