2000 IEEE International Workshop on Defect Based Testing
April 30, 2000, Montreal, Canada : proceedings
Edición de la obra 2000 IEEE International Workshop on Defect Based Testing
| Autor | IEEE International Workshop on Defect Based Testing (2000 Montréal, Québec) |
|---|---|
| Editorial | IEEE Computer Society |
| Fecha de publicación | 2000 |
| Lugar | Los Alamitos, Calif |
| Idioma | inglés |
| Páginas | 82 |
| ISBN-10 | 0769506372 |
| OCLC | 44935580 |
| LCCN | 00102862 |
| Número de Cutter | I22i |