15th IEEE VLSI Test Symposium
April 27-May 1, 1997, Monterey, California : proceedings
Edición de la obra 15th IEEE VLSI Test Symposium
| Autor | IEEE VLSI Test Symposium (15th 1997 Monterey, Calif.) |
|---|---|
| Editorial | IEEE Computer Society Press |
| Fecha de publicación | 1997 |
| Lugar | Los Alamitos, Calif |
| Idioma | inglés |
| Páginas | 466 |
| ISBN-10 | 0818678100, 0818678127 |
| Número de Cutter | I22t |